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芯片高溫高濕高壓試驗(yàn)箱用于在產(chǎn)品的設(shè)計(jì)階段，用于快速暴露產(chǎn)品的缺陷和薄弱環(huán)節(jié)，適合電子、電器、車(chē)輛、金屬、化學(xué)、建材、通訊組件、國(guó)防工業(yè)、航天工業(yè)、電子芯片IC、IT等物理性變化

飽和加速壽命老化試驗(yàn)箱用途：使用于在產(chǎn)品的設(shè)計(jì)階段,用于快速暴露產(chǎn)品的缺陷和薄弱環(huán)節(jié)，適合電子、電器、車(chē)輛、金屬、化學(xué)、建材、通訊組件、國(guó)防工業(yè)、航天工業(yè)、電子芯片IC、IT等物理性變化的測(cè)試之用。

hast非飽和試驗(yàn)箱圓型門(mén)設(shè)計(jì)，能夠密封溫度與壓力安全鎖定控制，鎖牢固才能啟動(dòng)試驗(yàn)機(jī)，箱內(nèi)壓力超壓時(shí)具有自動(dòng)泄壓或手動(dòng)泄壓。計(jì)時(shí)安裝，LED數(shù)字型計(jì)時(shí)器，當(dāng)鍋內(nèi)溫度達(dá)到后計(jì)時(shí)器確保試驗(yàn)*，計(jì)時(shí)從表格1驅(qū)動(dòng)。

端子hast老化試驗(yàn)箱在很多行業(yè)被廣泛的應(yīng)用、使用。適合的行業(yè)為電子、電器、通訊、箱表、車(chē)輛、塑膠制品、金屬、食品、化學(xué)、建材、醫(yī)療、航天等，在這些行業(yè)中，來(lái)檢測(cè)制品的檢測(cè)質(zhì)量之用。

hast高壓加速老化試驗(yàn)箱 又稱(chēng)為高壓加速老化試驗(yàn)箱，實(shí)驗(yàn)室光源曝露試驗(yàn)因?yàn)榭梢栽谝粋€(gè)高壓加速老化試驗(yàn)箱中同時(shí)模擬大氣可見(jiàn)環(huán)境中的光、氧、熱和降雨等因素

高壓加速壽命試驗(yàn)箱廠家用于調(diào)查分析何時(shí)出現(xiàn)電子元器件和機(jī)械零件的磨耗和使用壽命的問(wèn)題，使用壽命的故障分布函數(shù)呈什么樣的形狀，以及分析失效率上升的原因所進(jìn)行的試驗(yàn)。